您的位置: 首页 > 农业专利 > 详情页

画像中の異常を識別する方法
专利权人:
OPTOS PLC
发明人:
DAVID CLIFTON,デイビッド クリフトン,ROBERTSON CRAIG,クレイグ ロバートソン
申请号:
JP2016113551
公开号:
JP2016185337A
申请日:
2016.06.07
申请国别(地区):
JP
年份:
2016
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for identifying abnormalities in images generated by an imaging device.SOLUTION: The method includes steps 10 and 12 of receiving a first quantity of candidate abnormalities and a second quantity of candidate abnormalities. These candidate abnormalities are identified in successive images generated by an imaging device. Constellation matching is performed between the first quantity of candidate abnormalities and the second quantity of candidate abnormalities, a correlation between them is identified and it is expressed with a constellation matching value 14, 16, 18 and 19. A plurality of constellation matching values are determined in various relative shifts in x-y direction between the first quantity of candidate abnormalities and the second quantity of candidate abnormalities. When a good correlation is found in a specific shift in x-y direction, candidate abnormalities are common between a first image and a second image, which indicates that the first and second images include abnormalities.SELECTED DRAWING: Figure 1COPYRIGHT: (C)2017,JPO&INPIT【課題】撮像装置を用いて生成された画像中の異常を識別する方法を提供する。【解決手段】第1の数の候補異常及び第2の数の候補異常を受信するステップ10,12を含み、これらの候補異常は、撮像装置で生成された連続画像中に識別される。第1の数の候補異常と第2の数の候補異常との間でコンステレーション・マッチを実行して、これらの間の相関を識別して、コンステレーション・マッチ値で表す14,16,18,19。第1の数の候補異常と第2の数の候補異常との間の、種々の相対的なx-y方向のシフトに対して、複数のコンステレーション・マッチ値を決定する。特定のx-y方向のシフトにおいて良好な相関が見出されれば、第1画像と第2画像との間で候補異常が共通し、このことは、第1及び第2画像が異常を含むことを示す。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

意 见 箱

匿名:登录

个人用户登录

找回密码

第三方账号登录

忘记密码

个人用户注册

必须为有效邮箱
6~16位数字与字母组合
6~16位数字与字母组合
请输入正确的手机号码

信息补充