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DISPOSITIF DE MESURE DE CHAMP MAGNÉTIQUE
专利权人:
旭化成エレクトロニクス株式会社;ASAHI KASEI MICRODEVICES CORPORATION
发明人:
OKATAKE Shigeki,岡武茂樹,MORIYASU Yoshitaka,森安嘉貴,MASUDA Masanori,益田征典,NAKAMURA Takenobu,中村威信
申请号:
JPJP2019/050826
公开号:
WO2020/138170A1
申请日:
2019.12.25
申请国别(地区):
JP
年份:
2020
代理人:
摘要:
Provided is a magnetic field measuring device provided with a magnetic sensor array (210) which includes a plurality of magnetic sensor cells (220) and which is capable of detecting input magnetic fields in three axial directions at a plurality of locations in three-dimensional space, a measured data acquiring unit (1720) for acquiring measured data based on the input magnetic fields including a magnetic field being measured, and a measured data computing unit (1721) for calibrating the measured data acquired by the measured data acquiring unit (1720), wherein: the measured data computing unit (1721) includes an index calculating unit (1770) for calculating an index indicating an accuracy of the calibration performed by the measured data computing unit (1721), and a failure determining unit (1790) for determining a failure on the basis of the index calculated by the index calculating unit (1770); and each of the plurality of magnetic sensor cells (220) includes a magnetic sensor (520) and an output unit (540) for outputting an output signal.L'invention concerne un dispositif de mesure de champ magnétique pourvu d'un réseau de capteurs magnétiques (210) qui comprend une pluralité de cellules de capteur magnétique (220) et qui est capable de détecter des champs magnétiques d'entrée dans trois directions axiales au niveau d'une pluralité d'emplacements dans un espace tridimensionnel, une unité d'acquisition de données mesurées (1720) pour acquérir des données mesurées sur la base des champs magnétiques d'entrée comprenant un champ magnétique mesuré, et une unité de calcul de données mesurées (1721) pour étalonner les données mesurées acquises par l'unité d'acquisition de données mesurées (1720), l'unité de calcul de données mesurées (1721) comprenant une unité de calcul d'indice (1770) pour calculer un indice indiquant une précision de l'étalonnage effectué par l'unité de calcul de données mesurées (1721), et une unité de détermination de défaillance (1790) pour déterm
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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