您的位置: 首页 > 农业专利 > 详情页

MULTIPLE EEG MEASURING DEVICE AND METHOD
专利权人:
전자부품연구원;KOREA ELECTRONICS TECHNOLOGY INSTITUTE
发明人:
KIM, YOUNG HWAN,김영환,LIM, CHAE YOUNG,임채영,KIM, YOUNG HWANKR,LIM, CHAE YOUNGKR
申请号:
KR1020140099114
公开号:
KR1020160017248A
申请日:
2014.08.01
申请国别(地区):
KR
年份:
2016
代理人:
摘要:
Provided are a device and a method to measure a multi-brainwave. According to an embodiment of the present invention, the device includes: brainwave electrodes placed in multiple measurement parts; signal processing parts processing brainwave signals, outputted from the brainwave electrodes, while being separated from the brainwave electrodes; and a controller analyzing the brainwave signals, processed in the signal processing parts. Therefore, since the signal processing parts, separated from the brainwave electrodes, amplifies and filters the brainwave signals, the weight and volume of the brainwave electrodes are reduced.다중 뇌파 측정 장치 및 방법이 제공된다. 본 발명의 실시예에 따른 다중 뇌파 측정 장치는, 다수의 측정 부위에 위치한 뇌파 전극들, 뇌파 전극들과 분리된 상태로 뇌파 전극들에서 출력되는 뇌파 신호들을 각각 신호처리하는 신호처리부들 및 신호처리부들에서 신호처리된 뇌파 신호들을 분석하는 컨트롤러를 포함한다. 이에 의해, 뇌파 신호의 증폭과 필터링을 뇌파 전극과 분리된 신호처리부에서 수행하여, 뇌파 전극 측의 부피와 무게를 줄일 수 있게 된다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

意 见 箱

匿名:登录

个人用户登录

找回密码

第三方账号登录

忘记密码

个人用户注册

必须为有效邮箱
6~16位数字与字母组合
6~16位数字与字母组合
请输入正确的手机号码

信息补充