The present invention provides a surface property measuring technology that enables precise evaluation of the surface property of a material. A surface property measuring method according to the present invention includes: radiating an ultrasonic wave onto a target to be measured to acquire a reflection signal from the target to be measured calculating, with a measuring device, the maximum value of a cross-correlation function between the reflection signal from the target to be measured and a reference reflection signal of a reference material that has been acquired in advance calculating a reflection component at the interface by using the maximum value of the cross-correlation function and outputting, as a measurement value, one of the acoustic impedance of the target to be measured and the acoustic impedance of the reference material, according to the result of comparison between the reflection component and the reference reflection signal.La présente invention concerne une technologie de mesure de propriété de surface qui permet une évaluation précise de la propriété de surface dun matériau. Un procédé de mesure de propriété de surface selon la présente invention comprend : le rayonnement dune onde ultrasonore sur une cible devant être mesurée pour acquérir un signal de réflexion provenant de la cible à mesurer le calcul, avec un dispositif de mesure, de la valeur maximale dune fonction de corrélation croisée entre le signal de réflexion provenant de la cible devant être mesurée et un signal de réflexion de référence dun matériau de référence qui a été acquis à lavance le calcul dune composante de réflexion au niveau de linterface en utilisant la valeur maximale de la fonction de corrélation croisée et la sortie, en tant que valeur de mesure, de lune de limpédance acoustique de la cible devant être mesurée et limpédance acoustique du matériau de référence, en fonction du résultat de la comparaison entre la composante de réflexion et le signal de réflexion de
