There is provided a calibration phantom for an x-ray imaging system having an x-ray source and an x-ray detector. The calibration phantom (5) comprises a combination of geometric objects (1, 2, 3) of at least three different types and/or compositions including: -a first object (1) located in the middle, comprising a first material； -a plurality of second objects (2) arranged around the periphery of the first object, at least a subset of the second objects comprising a second material different than the first material, wherein the first object is relatively larger than the second objects； -a plurality of third objects (3) arranged around the periphery of the first object and/or around the periphery of at least a subset of the second objects, at least a subset of the third objects comprising a third material different than the first material and the second material, wherein the third objects are relatively smaller than the second objects.L'invention concerne un fantôme d'étalonnage pour un système d'imagerie par rayons X ayant une source de rayons X et un détecteur de rayons X. Le fantôme d'étalonnage (5) comprend une combinaison d'objets géométriques (1, 2, 3) d'au moins trois types et/ou compositions différent(e)s comprenant : un premier objet (1) situé au milieu, comprenant un premier matériau； une pluralité de deuxièmes objets (2) disposés autour de la périphérie du premier objet, au moins un sous-ensemble des deuxièmes objets comprenant un second matériau différent du premier matériau, le premier objet étant relativement plus grand que les deuxièmes objets； une pluralité de troisièmes objets (3) disposés autour de la périphérie du premier objet et/ou autour de la périphérie d'au moins un sous-ensemble des seconds objets, au moins un sous-ensemble des troisièmes objets comprenant un troisième matériau différent du premier matériau et du deuxième matériau, les troisièmes objets étant relativement plus petits que les deuxièmes objets.
