Disclosed is a calibration object for an x-ray system and an optical system, the calibration object comprising: - a first part made of a first material having a matte surface, the first material having a first attenuation coefficient of x-rays； - a second part made of a second material having a second attenuation coefficient of x-rays different from the attenuation coefficient of the first material； wherein the first part is attached to the second part so that one or more features are detectable by one or more optical cameras.L'invention concerne un objet d'étalonnage pour un système à rayons x et un système optique, l'objet d'étalonnage comprenant : - une première partie constituée d'un premier matériau comportant une surface mate, le premier matériau ayant un premier coefficient d'atténuation de rayons x ； - une seconde partie constituée d'un second matériau ayant un second coefficient d'atténuation de rayons x différent du coefficient d'atténuation du premier matériau ； la première partie étant fixée à la seconde partie de sorte qu'une ou plusieurs caractéristiques soient détectables par une ou plusieurs caméras optiques.
