A crystalline form of a compound of Formula (A): which is called Form II, in which the X-ray diffraction pattern comprises peaks at (± 0.15 degrees 2 theta): 5.71 degrees, 11.47 and 9.97 degrees 2-theta, where XRPD patterns were obtained with a powder X-ray diffractometer using K-alpha radiation and the samples were scanned at a rate of 1.0 degrees / minute from 2 to 40 degrees in a 2-theta angle.Una forma cristalina de un compuesto de Fórmula (A): que se denomina Forma II, en la que el patrón de difracción de rayos X comprende picos a (± 0,15 grados 2 theta): 5,71 grados, 11,47 y 9,97 grados 2-theta, donde los patrones de XRPD se obtuvieron con un difractómetro de rayos X en polvo utilizando radiación K-alpha y las muestras fueron barridas a una velocidad de 1,0 grados/minuto desde 2 hasta 40 grados en un ángulo 2-theta.
