The present invention relates to a self-examination method and to a self-examination device. More specifically, the present invention relates to a self-examination method and self-examination device for providing examination guidance information for self examination.La présente invention concerne un procédé et un dispositif dauto-examen. Linvention concerne plus particulièrement un procédé et un dispositif dauto-examen conçu pour donner des informations de guidage permettant deffectuer lauto-examen.본 발명은 자가진찰방법 및 자가진찰장치에 관한 것이다. 보다 상세하게는, 본 발명은 자가진찰을 위한 진찰가이드정보를 제공하는 자가진찰방법 및 자가진찰장치에 관한 것이다.
