放射線撮像装置および微分方向推定方法
- 专利权人:
- キヤノン株式会社
- 发明人:
- 近藤 剛史
- 申请号：
- JP20150126641
- 公开号：
- JP2017006468(A)
- 申请日:
- 2015.06.24
- 申请国别(地区):
- 日本
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 【課題】微分干渉計の微分方向を推定し、被検体の情報をより精度良く取得する技術を提供する。【解決手段】放射線撮像装置は、被検体を透過した放射線により形成される干渉縞を取得する微分干渉計と、前記微分干渉計で得られる干渉縞を解析することにより、前記微分干渉計の微分方向を推定する演算装置と、を有する。微分方向推定方法は、演算装置が、被検体を透過した放射線により形成される干渉縞を微分干渉計から取得する工程と、前記演算装置が、前記微分干渉計で得られる干渉縞を解析することにより、前記微分干渉計の微分方向を推定する工程と、を有する。【選択図】図１
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
