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一种基于半导体温控系统的温室大棚温度调控方法
专利权人:
苏州佑瑞检测技术有限公司
发明人:
徐进伟,张金民,陈春旭
申请号:
CN201410593378.7
公开号:
CN104331110A
申请日:
2014.10.29
申请国别(地区):
中国
年份:
2015
代理人:
许方
摘要:
一种基于半导体温控系统的温室大棚温度调控方法,具体包含如下:预设温室大棚环境正常温度阈值和最高极限温度参数;根据预设频率采集温室大棚环境温度参数;根据采集的温室大棚环境温度参数和预设的温度阈值进行判断:若温室大棚环境温度参数为正常温度阈值,则降低温室大棚环境温度采集频率;若温室大棚环境温度参数低于正常温度阈值,则通过半导体温控系统进行升温;若温室大棚环境温度参数高于正常温度阈值,则通过半导体温控系统进行降温;若温室大棚环境温度参数高于最高极限温度参数,则控制报警单元发出警报,启动半导体温控系统进行降温,同时增大温室大棚环境温度采集频率。能根据设定的温度自动调节温度的半导体温度调控方法。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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