Beleuchtungseinrichtung für ein zwei Beobachtungsstrahlengänge (152, 154) für einen ersten Beobachter (Hauptoperateur) und zwei Beobachtungsstrahlengänge (156, 158) für einen zweiten Beobachter (Assistent) aufweisendes Operationsmikroskop, mit einem Beleuchtungssystem (102 106a, 108a) zur Bereitstellung zweier paralleler Beleuchtungsstrahlengänge (106, 108) und einer Umlenkeinrichtung (118, 120), zum Umlenken der parallelen Beleuchtungsstrahlengänge auf ein zu beobachtendes Objekt (200), dadurch gekennzeichnet dass, die Umlenkeinrichtung ein erstes teildurchlässiges Umlenkelement (118), welches einem ersten Beobachtungsstrahlengang (154) des ersten Beobachters und einem ersten Beobachtungsstrahlengang (156) des zweiten Beobachters zugeordnet ist, sowie ein zweites teildurchlässiges Umlenkelement (120), welches einem zweiten Beobachtungsstrahlengang (152) des ersten Beobachters und einem zweiten Beobachtungsstrahlengang (158) des zweiten Beobachters zugeordnet ist, aufweist, wobei der erste Beleuchtungsstrahlengang (106) ausschließlich das erste Umlenkelement (118) und der zweite Beleuchtungsstrahleng ausschließlich das zweite Umlenkelement beaufschlagt.Illumination device for two observation beam paths (152, 154) for a first observer (main operator) and two observation beam paths (156, 158) for a second observer (assistant), surgical microscope, with an illuminating system (102 106a, 108a) for the provision of two parallel illumination beam paths (106, 108) and a deflection device (118, 120), in order to deflect the parallel to an illumination beam paths to be observed object (200), characterised in that the deflection device, a first semi-permeable deflecting element (118), which a first observation beam path (154) of the first observer and a first observation beam path (156) of the second observer is assigned, as well as a second semi-permeable deflecting element (120), which is a second observation beam path (152) of the first observer and a second observation be
