您的位置: 首页 > 农业专利 > 详情页

MEASURING SYSTEM AND METHOD FOR LOCATION CHANGE OF TEETH USING JIG
专利权人:
경희대학교 산학협력단;UNIVERSITY-INDUSTRY COOPERATION GROUP OF KYUNG HEE UNIVERSITY
发明人:
CHOI, SAM JIN,최삼진,LEE, JAE CHUL,이재철,PARK, HUN KUK,박헌국,PARK, KI HO,박기호,PARK, YOUNG GUK,박영국,KIM, KYUNG A,김경아,CHOI, SAM JINKR,LEE, JAE CHULKR,PARK, HUN KUKKR,PARK, KI HOKR,PARK, YOUNG GUKKR,KIM, KYUNG AKR
申请号:
KR1020160108598
公开号:
KR1020180024079A
申请日:
2016.08.25
申请国别(地区):
KR
年份:
2018
代理人:
摘要:
Provided is a system for measuring a positional change of teeth using a jig, and a method therefor. The system for measuring the positional change of teeth using the jig, according to the present invention, comprises: the jig (100) coupled to a front side of a tooth; a scanning device (200) for obtaining an image of the jig (100) mounted on the tooth, specifically a first scanning image at a first inspection time and a second scanning image at a second inspection time after the first inspection time; and a computing device (300) calculating a first coordinate and a second coordinate respectively of the jig (100) corresponding to the first inspection time and the second inspection based on each of the first scanning image and the second scanning image, and calculating the positional change of the tooth for a moment between the first inspection time and the second inspection time by comparing the first coordinate and the second coordinate.지그를 이용한 치아의 위치 변화 측정 시스템 및 방법을 제공한다. 본 발명에 따른 치아 위치 변화 측정 시스템은 치아의 전면 측에 결합하는 지그(100), 상기 치아에 장착된 지그(100)의 이미지를 얻는 스캔 장치(200)로서, 제1 검사 시기에 제1 스캔 이미지를 얻고 상기 제1 검사 시기 이후의 제2 검사 시기에 제2 스캔 이미지를 얻는 스캔 장치(200) 및 상기 제1 및 제2 스캔 이미지 각각에 기초하여 상기 제1 및 제2 검사 시기에 대응하는 상기 지그(100)의 제1 및 제2 좌표를 각각 산출하며, 상기 제1 및 제2 좌표를 비교하여 상기 제1 및 제2 검사 시기 사이의 시간 동안 상기 치아의 위치 변화를 산출하는 컴퓨팅 장치(300);를 포함할 수 있다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

意 见 箱

匿名:登录

个人用户登录

找回密码

第三方账号登录

忘记密码

个人用户注册

必须为有效邮箱
6~16位数字与字母组合
6~16位数字与字母组合
请输入正确的手机号码

信息补充