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DISPOSITIF DE MESURE OPTIQUE
专利权人:
国立大学法人浜松医科大学;SU;NIWAYAMA, Masatsugu;KANAYAMA, Naohiro;NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION HAMAMATSU UNIVERSITY SCHOOL OF MEDICINE;NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION SHIZUOKA UNIVERSITY;庭山 雅嗣;金山 尚裕;国立大学法人静岡大学
发明人:
NIWAYAMA, Masatsugu,庭山雅嗣,KANAYAMA, Naohiro,金山尚裕,SUZUKI, Kazunao,鈴木一有
申请号:
JPJP2012/054473
公开号:
WO2012/115210A1
申请日:
2012.02.23
申请国别(地区):
JP
年份:
2012
代理人:
摘要:
The purpose of the present invention is to enable the accurate measurement of the degree of absorption of light in a deep tissue of a human body, a fruit or the like.The thickness of adipose is calculated (104). A first specific distance and a second specific distance both of which correspond to the thickness of the calculated adipose are calculated on the basis of a predetermined relationship among the thickness of the adipose, the first specific distance, and the measurement sensitivity of a superficial layer and the measurement sensitivity of a deep layer upon the reception of light at a position that is apart by the first specific distance from a light-emitting means (106). A third specific distance and a fourth specific distance both of which correspond to the calculated thickness of the adipose are calculated on the basis of a predetermined relationship among the thickness of the adipose, the third specific distance, and the measurement sensitivity of an intercalating layer and the measurement sensitivity of the deep layer upon the reception of light at a position which is apart by the third specific distance from the light-emitting means (108).La présente invention vise à permettre la mesure précise du degré d'absorption de lumière dans un tissu profond d'un corps humain, d'un fruit, ou analogue. A cet effet, selon l'invention, l'épaisseur d'adipose est calculée (104). Une première distance spécifique et une seconde distance spécifique, toutes deux correspondant à l'épaisseur de l'adipose calculée, sont calculées sur la base d'une relation prédéterminée entre l'épaisseur de l'adipose, la première distance spécifique, et la sensibilité de mesure d'une couche superficielle et la sensibilité de mesure d'une couche profonde lors de la réception de lumière en une position qui est éloignée de la première distance spécifique vis-à-vis d'un moyen émetteur de lumière (106). Une troisième distance spécifique et une quatrième distance spécifique, toutes deux correspon
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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