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輝度ムラ検出装置および方法
专利权人:
FUJIFILM CORP
发明人:
NAITO KEI,内藤 慧
申请号:
JP2012064764
公开号:
JP2013192828A
申请日:
2012.03.22
申请国别(地区):
JP
年份:
2013
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To accurately detect uneven brightness between images when connecting and synthesizing a plurality of images.SOLUTION: An overlapping part extracting section 12 extracts overlapping parts between two radiation images acquired by long-length photography. An offset correcting section 13 calculates the offset amounts r of the overlapping parts Cup and Cdown of the two radiation images, and an uneven brightness calculating section 14 calculates an uneven vector K(y) representing uneven brightness. An image processing section 15 carries out image processing to match brightness of the two radiation images on the basis of regions of parts without uneven brightness acquired from the uneven vector K(y). A synthesizing section 16 synthesizes the radiation images so as to connect the overlapping parts to acquire a long-sized radiation image GL.COPYRIGHT: (C)2013,JPO&INPIT【課題】複数の画像をつなぎ合わせて合成する場合に、画像間の輝度ムラを精度良く検出する【解決手段】重複部抽出部12が、長尺撮影により取得された2つの放射線画像の重複部を抽出する。オフセット補正部13が、2つの放射線画像における重複部Cup、Cdownのオフセット量rを算出し、輝度ムラ算出部14が、輝度ムラを表すムラベクトルK(y)を算出する。画像処理部15がムラベクトルK(y)から求めた輝度ムラ以外の部分の領域に基づいて、2つの放射線画像の輝度を合わせる画像処理を行い、合成部16が放射線画像の重複部をつなぎ合わせるように合成し、長尺の放射線画像GLを取得する。【選択図】図3
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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