一种打工业蜡大米的无损鉴别方法
- 专利权人:
- 上海理工大学
- 发明人:
- 李柏承,赵曼彤,周瑶,侯宝路,徐邦联,张大伟,王琦,黄元申
- 申请号：
- CN201410714314.8
- 公开号：
- CN104406940B
- 申请日:
- 2014.12.01
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 吴宝根
- 摘要：
- 本发明涉及一种打工业蜡大米的无损鉴别方法，利用可见‑近红外高光谱成像系统拍摄大米的高光谱图像，可以得到大米的三维信息，其中两维是空间信息，一维是光谱信息。通过黑白板校正将大米样品每个波长下的光谱响应强度转化为反射率，并利用多元散射校正（MSC）对反射率数据进行预处理。利用连续投影算法（SPA）提取了8个特征波长，然后拍摄未知大米得到其高光谱图像，可以根据偏最小二乘法（PLS）建立数学回归模型对未知大米是否打工业蜡进行鉴别。方便快捷，操作简单，为市场上快速无损鉴定打工业蜡大米提供了一种可行的方法。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
