there is provided a method for at least partially determining an orientation of an edge-on x-ray detector with respect to an x-ray direction from an x-ray source. The method includes obtaining (S1) information indicative of the intensity of the x-ray from at least two relative positions of the x-ray detector and the phantom associated with the x-ray source from measurements performed by the x- Wherein the phantom is positioned between the x-ray source and the x-ray detector and is designed to insert direction information into the x-ray irradiance range when exposed to the x-ray. The method also includes determining at least one of the x-ray detectors, the x-ray source and the geometry model of the spatial configuration of the phantom and the at least one And determining a parameter (S2).x-선 광원으로부터의 x-선 방향에 대한 에지-온 x-선 검출기의 배향을 적어도 부분적으로 결정하기 위한 방법이 제공된다. 상기 방법은 상기 x-선 검출기에 의하여 수행된 측정으로부터 상기 x-선 검출기 및 상기 x-선 광원과 관련된 팬텀의 최소 2개의 상대적인 위치에서 상기 x-선의 강도를 나타내는 정보를 획득하는 단계(S1)를 포함하며, 여기에서 상기 팬텀은 상기 x-선 광원과 상기 x-선 검출기 사이에 위치되며 x-선에 노출되었을 때 x-선 조사 범위에 방향 정보를 삽입하도록 설계된다. 상기 방법은 또한 상기 x-선 검출기, x-선 광원 및 팬텀의 공간적 구성의 지오메트리 모델 및 측정으로부터 획득된 정보에 기초하여 상기 x-선 방향에 대한 상기 x-선 검출기의 배향에 연관된 적어도 하나의 파라미터를 결정하는 단계(S2)를 포함한다.
