Sonde für die Messung von dielektrischen Eigenschaften eines Materials, umfassend ein Array (1) aus mindestens zwei koaxialen Einzelsonden (2), wobei jede Einzelsonde mindestens einen Innenleiter (3), mindestens einen Außenleiter (4) und mindestens ein zwischen Innenleiter (3) und Außenleiter (4) angeordnetes Dielektrikum (5) umfasst, dadurch gekennzeichnet, dass jede Einzelsonde (2) mindestens eine den Außenleiter (4) umgebende Isolationsschicht (6) umfasst, und dass ein unterer Abschnitt der Einzelsonden (2) frei von der Isolationsschicht (6) ist.Probe for the measurement of the dielectric properties of a material, comprising an array (1) of at least two coaxial individual probes (2), wherein each individual probe at least one inner conductor (3), at least one outer conductor (4) and at least one between the inner conductor (3) and the outer conductor (4) which is arranged in the dielectric (5), characterised in that each individual probe (2) at least one of the outer conductor (4) surrounding insulation layer (6), and in that a lower portion of the individual probes (2) free of the insulating layer (6) is.
