辐射焦点位置检测方法、辐射检测设备和辐射断层成像设备
- 专利权人:
- 通用电气公司
- 发明人:
- H.库罗基,I.阿布德拉茨
- 申请号:
- CN201310628431.8
- 公开号:
- CN103852777B
- 申请日:
- 2013.11.29
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2018
- 代理人:
- 摘要:
- 本发明公开一种辐射焦点位置检测方法、辐射检测设备和辐射断层成像设备,该设备包括:辐射源;辐射检测器,辐射检测器包括沿通道和切片方向设置的多个检测元件;辐射吸收器,辐射吸收器设置为覆盖辐射检测器中的第一和第二检测元件区域的一部分,所述部分位于所述第一和第二检测元件的相互毗连的侧面上;以及指定装置,指定装置基于从辐射源的焦点发出的辐射的强度和由第一和第二检测元件区域中的检测元件检测的辐射的强度指定辐射源的焦点的位置。
- 来源网站:
- 中国工程科技知识中心