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DISPOSITIF D'INSPECTION, PROCÉDÉ D'INSPECTION ET SUPPORT DE STOCKAGE
专利权人:
NEC CORPORATION;日本電気株式会社
发明人:
KIYUNA, Tomoharu,喜友名朝春,TAKAHASHI, Ikuma,高橋郁磨,SANO, Maki,佐野真貴,KAMIJO, Kenichi,上條憲一,TAKOH, Kimiyasu,田光公康,KITAMURA, Yoshikazu,北村義和
申请号:
JPJP2020/002497
公开号:
WO2020/183936A1
申请日:
2020.01.24
申请国别(地区):
JP
年份:
2020
代理人:
摘要:
In the present invention, an acquisition unit 41B acquires an image of interest in which an object to be inspected is displayed. A detection unit 42B uses an image group in which objects in a normal state are displayed as a basis to detect an image of interest in which an object that is not in a normal state is displayed among the images of interest acquired by the acquisition unit 41B.Dans la présente invention, une unité d'acquisition 41B acquiert une image d'intérêt dans laquelle un objet à inspecter est affiché. Une unité de détection 42B utilise un groupe d'images dans lequel des objets dans un état normal sont affichés en tant que base pour détecter une image d'intérêt dans laquelle un objet qui n'est pas dans un état normal est affiché parmi les images d'intérêt acquises par l'unité d'acquisition 41B.取得部41Bは、検査対象となる対象物を表示した対象画像を取得する。検出部42Bは、正常状態の対象物を表示した画像群に基づき、取得部41Bが取得する対象画像のうち、正常状態でない対象物を表示した対象画像を検出する。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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