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微分相位对比成像
专利权人:
皇家飞利浦电子股份有限公司
发明人:
E·勒斯尔
申请号:
CN201180050117.5
公开号:
CN103189739A
申请日:
2011.10.12
申请国别(地区):
CN
年份:
2013
代理人:
摘要:
本发明涉及微分相位对比成像,尤其涉及一种用于X射线微分相位对比成像的衍射光栅、例如分析器光栅和相位光栅的结构。为了更好地利用通过对象的X射线辐射,提供一种用于X射线微分相位对比成像的衍射光栅(14),其具有第一子区域(26)的至少一个部分(24)和第二子区域(30)的至少一个部分(28)。所述第一子区域包括具有多个以第一光栅间距PG(38)周期性布置的条(34)和间隙(36)的光栅结构(54),其中,所述条被布置成使得它们改变X射线辐射的相位和/或幅度,并且其中,所述间隙是能透过X射线的。所述第二子区域是能透过X射线的,并且其中,所述第二子区域的至少一个部分在光栅中提供能透过X射线的孔径(40)。沿至少一个方向(42)以交替方式布置第一子区域和第二子区域的各部分。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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