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一种纳秒级反馈数据采集与统计分析方法
- 专利权人:
- 北京环度智慧智能技术研究所有限公司
- 发明人:
- 沃建中
- 申请号：
- CN201510482709.4
- 公开号：
- CN105078481B
- 申请日:
- 2015.08.07
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及一种纳秒级反馈数据采集与统计分析方法，其包括：向测试人员产生刺激信息；收集测试人员响应于所述刺激信息而发出的包括反馈动作和时间的反馈信息，所述反馈动作至少包括作为第一反馈动作的鼠标动作和作为第二反馈动作的眼球动作；利用CPU底层计数器对第一反馈时间和第二反馈时间进行精确到纳秒位的记录，并且根据第二反馈时间对第一反馈时间进行校准；将反馈信息按照反馈动作的类型进行统计和分类存储，并且将所述反馈信息与预先存储的标准数据进行映射匹配以分析测试人员的反应速度。本发明的反馈数据采集与统计分析方法具有测试精度高，准确度好的优点，尤其适用于认知能力和潜能测试中对于反应能力的测量与评价。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
