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情報取得装置
专利权人:
SEIKO EPSON CORP
发明人:
ISHIGURO HIDETO,石黒 英人,EGUCHI TSUKASA,江口 司,TSUCHIYA JIN,土屋 仁,ITO MEGUMI,伊藤 恵
申请号:
JP2015033759
公开号:
JP2016154648A
申请日:
2015.02.24
申请国别(地区):
JP
年份:
2016
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an information acquisition device capable of detecting a characteristic of reflected light on an analyte, accurately even when sensor sensitivity is secularly changed.SOLUTION: A component measuring device 1 has: a first unit 2 including a sensor module 10 for inputting first reflected light reflected by a part to be measured, and outputting a signal corresponding to light intensity of the first reflected light and a second unit 3 including a calibration board 36 having a stable reflectance, for outputting second reflected light for comparing light intensity of the first reflected light to the sensor module 10, separately from the first unit 2.SELECTED DRAWING: Figure 4COPYRIGHT: (C)2016,JPO&INPIT【課題】センサー感度が経時変化しても精度良く被検体における反射光の特性を検出することができる情報取得装置を提供する。【解決手段】成分測定装置1は被測定部で反射した第一反射光を入力して第一反射光の光強度に対応する信号を出力するセンサーモジュール10を備える第1ユニット2と、第1ユニット2と分離し第一反射光の光強度を比較するための第二反射光をセンサーモジュール10に出力する反射率の安定した校正板36を備える第2ユニット3と、を有する。【選択図】図4
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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