There is provided a measurement circuit (30) for an x-ray detector (5). The measurement circuit (30) is configured to sample measurement data to generate data points and process the data points before read-out to produce new data points by combining two or more data points which have been acquired at different times such that the number of data points for read-out are less than the number of original data points.L'invention concerne un circuit de mesure (30) destiné à un détecteur de rayons X (5). Ce circuit de mesure (30) est conçu pour échantillonner des données de mesure afin de générer des points de données et traiter ces points de données avant lecture, afin de produire des nouveaux points de données par combinaison d'au moins deux points de données qui ont été acquis à différents moments, de sorte que le nombre de points de données de lecture est inférieur au nombre de points de données d'origine.
