The invention relates to beam hardening correction in X-ray Dark-Field imaging of a subject including a first material and a second material, the first and second material having different beam hardening properties. As the X-ray imaging data includes information on the internal structure of the imaged subject, such information maybe used, together with appropriate calibration data to identify the beam hardening contributions occurring in the imaged area of the subject, so to allow for a correction of artifacts due to beam hardening in X-ray Dark-Field imaging.La présente invention concerne une correction de durcissement de faisceau en imagerie en champ sombre par rayons X d'un sujet, comprenant un premier matériau et un second matériau, le premier et le second matériau présentant des propriétés de durcissement de faisceau différentes. Étant donné que les données d'imagerie par rayons X comprennent des informations sur la structure interne du sujet imagé, de telles informations peut être utilisées, conjointement avec les données de calibrage appropriées pour identifier les contributions de durcissement de faisceau survenant dans la région imagée du sujet, afin de permettre une correction des artéfacts dus au durcissement de faisceau en imagerie en champ sombre par rayons X.
