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지문 인식 및 기타 측정 장치
专利权人:
发明人:
딘, 응옥, 민
申请号:
KR1020077009014
公开号:
KR1011924980000B1
申请日:
2005.09.22
申请国别(地区):
KR
年份:
2012
代理人:
摘要:
plurality of pixels or sensor elements sensitive to the physical parameter of the object surface (A) (4), and means for establishing the overall pattern is associated with the divided image ,- function for selectively addressing said sensor element ,- the ability to activate the sensor element ,- the ability to detect the physical parameterone or more sensor elements to provide the function of (4 , 71) and functionally associated with at least one diode (D1-Dn, 75 ), an object which is characterized in that it further comprises (F) a device for measuring the pattern of the surface (A).물체 표면(A)의 물리적인 파라미터에 감응하는 복수의 픽셀 또는 센서 요소(4), 및 상기 패턴에 관련된 전체적인 분할 화상을 수립하는 수단을 포함하고,- 상기 센서 요소를 선택적으로 어드레싱하는 기능,- 상기 센서 요소를 활성화하는 기능,- 상기 물리적 파라미터를 감지하는 기능중 하나 이상의 기능을 제공하기 위해 센서 요소(4, 71)와 기능적으로 연관된 적어도 하나의 다이오드(D1-Dn, 75)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 물체(F) 표면(A)의 패턴을 측정하는 장치.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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