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X線CT装置、および方法
专利权人:
HITACHI MEDICAL CORPORATION
发明人:
YAMAKAWA Keisuke,山川恵介,UEKI Hironori,植木広則
申请号:
JPJP2011/079870
公开号:
WO2012/127761A1
申请日:
2011.12.22
申请国别(地区):
WO
年份:
2012
代理人:
摘要:
If the calculation accuracy of a CT image of an entire subject is low, the accuracy of local-region measurement projection data deteriorates and local-region CT images cannot be corrected so as to have good accuracy. In the present invention, a background region CT image is created on the basis of measurement projection data (154-157). The background projection data of a background region CT image in the X-ray emission path is calculated (158). Using measurement projection data and background projection data, the measurement projection data of local regions is calculated (159, 160). Local region CT images are calculated on the basis of local measurement projection data, and the projection data of a local region CT image in the X-ray emission path is calculated (161). On the basis of local calculation projection data and local measurement projection data, local CT images are sequentially corrected (162-164). When creating background region CT images or calculating background projection data, the cause of calculation accuracy deterioration is eliminated by the use of processing such as smoothing (156), and without deterioration of CT value accuracy in regions other than the target region, a high-quality CT image is obtained.Si la précision de calcul dune image de tomographie informatisée de la totalité dun sujet est faible, la précision de données de projection de mesure de régions locales se détériore et des images de tomographie informatisée de régions locales ne peuvent pas être corrigées de façon à avoir une bonne précision. A cet effet, selon la présente invention, une image de tomographie informatisée de région darrière-plan est créée sur la base de données de projection de mesure (154-157). Les données de projection darrière-plan dune image de tomographie informatisée de région darrière-plan dans la trajectoire démission de rayons X sont calculées (158). A laide des données de projection de mesure et des données de projection darrière-plan, les données de proje
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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