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放射線撮像装置および画像処理方法
专利权人:
HITACHI MEDICAL CORPORATION
发明人:
BABA, Rika,馬場 理香
申请号:
JPJP2013/051645
公开号:
WO2013/145831A1
申请日:
2013.01.25
申请国别(地区):
WO
年份:
2013
代理人:
摘要:
The following are obtained by the present invention: an X-ray CT device enabling the acquisition of measurement images at rotation angles of at least 180 degrees, regardless of the arrangement, movement trajectory, and movement range of an X-ray source and a detector and highly accurate images. A measurement image detected by the detector is converted to a rotation measurement image obtained by rotationally moving the X-ray source and the detector on a concentric circular trajectory. Weighting, to which is imparted intensity change equal to a reconfiguration image obtained from a rotation measurement image obtained by measurement at the rotation angle range of 180 degrees, is applied to the measurement angles of a rotation measurement image, reconfiguration calculation is carried out, and a reconfiguration image is obtained.La présente invention concerne un dispositif de tomodensitométrie, qui permet dacquérir des images de mesure à des angles de rotation dau moins 180 degrés, quels que soient laménagement, la trajectoire de déplacement et la plage de déplacement dune source de rayons X et dun détecteur, et dobtenir des images très précises. Une image de mesure détectée par le détecteur est convertie en une image de mesure de rotation, obtenue par le déplacement en rotation de la source de rayons X et du détecteur sur une trajectoire circulaire concentrique. Le procédé comporte les étapes suivantes : appliquer une pondération, selon laquelle un changement dintensité égal est appliqué à une image de reconfiguration, obtenue à partir dune image de mesure en rotation obtenue par une mesure dans la plage dangle de rotation de 180 degrés, aux angles de mesure dune image de mesure en rotation mettre en oeuvre un calcul de reconfiguration et obtenir une image de reconfiguration.X線源および検出器の配置、移動軌道、移動範囲によらず、180度以上の回転角度で計測像を取得可能なX線CT装置と同様に、高精度な画像を取得する。検出器で検出した計測像を、X線源と検出器とが同心円軌道上を回転移動することにより取得する回転計測像に変換する。そして、回転計測像の計測角度毎に、回転角度範囲が180度の計測で得る回転計測像から得られた再構成像と同等の強度変化を付与する重みを適用し、再
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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