The present invention relate to a method for calibrating the distortion of a scintillation crystal map according to temperature changes of a radiation detector. The method for calibrating the distortion of a scintillation crystal map: converts and outputs a flashing light signal corresponding to incident gamma rays into an electric signal through a photoelectric device； generates and outputs information of a position corresponding to the position of the photoelectric device； calculates the position of a first scintillation crystal position using the position information； receives a calibration value corresponding to the current temperature and the first scintillation crystal position when the current temperature of a radiation detector is higher than a set reference temperature； and calculates a second scintillation crystal position by reflecting the collection value to the first scintillation crystal position.본 발명은 방사선 검출기의 온도 변화에 따른 섬광결정 맵 왜곡 보정 방법에 관한 것으로, 입사된 감마선에 대응하는 섬광신호를 광전소자에 의해 전기적 신호로 변환하여 출력하고, 광전소자의 위치에 대응하는 위치정보를 생성하여 출력하며, 상기 위치정보를 이용하여 제1 섬광결정 위치를 산출한 후, 방사선 검출기의 현재 온도가 설정된 기준 온도보다 큰 경우 상기 현재 온도와 상기 제1 섬광결정 위치에 대응한 보정값을 수신하고 상기 제1 섬광결정 위치에 상기 보정값을 반영하여 제2 섬광결정 위치를 산출하여 섬광결정맵을 형성한다.
