An image processing device (310) comprises: an inspection image acquiring unit (100) for acquiring an inspection image which is an image to be inspected a shift-invariant feature amount calculation unit (105) for calculating, from the inspection image acquired by the inspection image acquiring unit (100), a shift-invariant feature amount represented by a predetermined basis vector on a per-pixel basis a selection unit (106) for selecting pixels on the inspection image, said pixels having a predetermined threshold value or less of the matching degree between a relative positional relationship in the normal images in a class obtained when a plurality of shift-invariant feature amounts are clustered that are represented by the predetermined basis vector and calculated from a plurality of pixels included in a plurality of normal images, each of which does not include a pathological lesion and a relative positional relationship in the inspection image in a class to which each of the shift-invariant amounts included in the inspection image belongs and an output unit (200) for outputting the selection result obtained by the selection unit (106).Linvention concerne un dispositif de traitement dimage (310), qui comprend : une unité dacquisition dimage dinspection (100) pour acquérir une image dinspection qui est une image à inspecter une unité de calcul de quantité de caractéristiques qui ne varient pas en fonction du décalage (105) pour calculer, à partir de limage dinspection acquise par lunité dacquisition dimage dinspection (100), une quantité de caractéristiques qui ne varient pas en fonction du décalage représentée par un vecteur de base prédéterminé par pixel une unité de sélection (106) pour sélectionner des pixels sur limage dinspection, lesdits pixels ayant une valeur de seuil prédéterminée, ou moins, du degré de correspondance entre une relation de position relative dans les images normales dans une classe obtenue lorsquune pluralité de quantités de caractéristi
