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サンプル測定用のSS-OCT干渉法
专利权人:
カール ツァイス メディテック アクチェン ゲゼルシャフト
发明人:
ブブリツ ダニエル,クランペルト ゲルハルト,ハッケル マルティン
申请号:
JP2011512901
公开号:
JP5591798B2
申请日:
2009.06.12
申请国别(地区):
JP
年份:
2014
代理人:
摘要:
As for this invention, the sample from the especially eye (2) being the SS OCT interference method device for measurement, as for the aforementioned device (1), it forms the measurement signal measurement lighting light of the measurement signal (5) with the spectrum adjustment of central wave length, with interference method, at the same time, the sample (2) it forms the depth disassembly contrast signal from the aforementioned signal, furthermore control unit for this possesses (3), it regards the device. According to this invention, the device as for (1), the sample (2) or the sample (2) the sample motion detector which offers the motion signal which shows the movement inside (12 13 - 17) it includes, before or midst the formation of the depth disassembly contrast signal, control unit (3) revises the measurement signal in regard to the measurement error which is pulled up making use of the motion signal, the sample (2) or the sample (2) by the movement inside.< Selective figure >Figure 1b本発明は、特に眼からのサンプル(2)の測定用のSS OCT干渉法装置であって、前記装置(1)は、測定信号の測定照射光(5)の中心波長のスペクトル調整によって、干渉法により、測定信号を生成し且つ、前記信号からサンプル(2)の深さ分解コントラスト信号を生成し、さらにこのための制御ユニット(3)を有する、装置に関する。本発明によれば、装置(1)は、サンプル(2)のまたはサンプル(2)内の動きを示す運動信号を提供するサンプル運動検出器(12;13~17)を含み、深さ分解コントラスト信号の生成の前または最中に、制御ユニット(3)は運動信号を用いて、サンプル(2)のまたはサンプル(2)内の動きによって引き起こされる測定誤差に関して測定信号を補正する。【選択図】図1b
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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