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PROCÉDÉ À BASE DE RÉFLECTANCE ABSOLUE RAPIDE POUR LA DÉTERMINATION DE L'ÉPAISSEUR DE LA COUCHE LIPIDIQUE DU FILM LACRYMAL
专利权人:
ABBOTT MEDICAL OPTICS INC.
发明人:
HUTH, Stan,TRAN, Denise
申请号:
USUS2015/030385
公开号:
WO2015/187315A1
申请日:
2015.05.12
申请国别(地区):
US
年份:
2015
代理人:
摘要:
A method of determining tear film lipid layer thickness. The method includes the steps of measuring a tear film aqueous plus lipid layer relative reflectance spectrum using a wavelength- dependent optical interferometer; converting the measured tear film aqueous plus lipid layer relative reflectance spectrum to a calculated absolute reflectance spectrum; and comparing the calculated absolute reflectance spectrum to a theoretical absolute lipid reflectance spectrum to determine a tear film lipid layer thickness.La présente invention concerne un procédé de détermination de l'épaisseur de la couche lipidique du film lacrymal. Le procédé comprend les étapes de mesure du spectre de réflectance relative d'une couche aqueuse plus lipidique de film lacrymal au moyen d'un interféromètre optique dépendant de la longueur d'onde ; conversion du spectre de réflectance relative de la couche aqueuse plus lipidique de film lacrymal en spectre de réflectance absolue calculée ; et comparaison du spectre de réflectance absolue calculée à un spectre de réflectance de lipide absolue théorique afin de déterminer l'épaisseur d'une couche lipidique de film lacrymal.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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