KENNEDY, Brendan Francis,QI, Fang,SANDERSON, Rowan William
申请号：
AUAU2019/051171
公开号：
WO2020/082133A1
申请日:
2019.10.24
申请国别(地区):
AU
年份:
2020
代理人:
摘要：
The present disclosure provides an optical palpation device for evaluating a mechanical property of a sample material. The device comprises a body having a sensing portion and a sensing layer positioned at the sensing portion of the body and having a sensing surface positioned for direct or indirect contact with a surface area of the sample material. The sensing layer is deformable and has a predetermined deformation-dependent optical property. The device further comprises a light detector positioned to detect light transmitted through at least a portion of the sensing layer. The optical palpation device is arranged such that, when the sensing surface of the sensing layer is in direct or indirect contact with the surface area of the sample material and a pressure is applied through both the sensing layer and at least a portion of the surface area of the sample material, because of the predetermined deformation or pressure-dependent optical property of the sensing layer the mechanical property of the sample material is measurable by detecting the light that transmitted through at least a portion of the sensing layer.La présente invention porte sur un dispositif de palpation optique destiné à évaluer une propriété mécanique d'un matériau d'échantillon. Le dispositif comprend un corps présentant une partie de détection et une couche de détection positionnée au niveau de la partie de détection du corps et présentant une surface de détection positionnée pour un contact direct ou indirect avec une zone de surface du matériau d'échantillon. La couche de détection est déformable et présente une propriété optique dépendant de la déformation prédéfinie. Le dispositif comprend en outre un détecteur de lumière positionné pour détecter la lumière transmise à travers au moins une partie de la couche de détection. Le dispositif de palpation optique est agencé de telle sorte que, lorsque la surface de détection de la couche de détection est en contact direct ou indirect avec la zon
