Provided is a slit-lamp microscope capable suitably and readily setting an optical system. Reference setting conditions information (110) in which reference setting conditions of an illumination system (8) and an observation system (6) are correlated with respect to each of a plurality of locations of a subjective eye (E) are stored in advance in a storage unit (102) of the slit-lamp microscope (1). A search unit (121) searches for reference setting conditions corresponding to the location specified by an operation unit (104) from the reference setting conditions information (110). A setting state acquisition unit (122) acquires the current setting state of the illumination system (8) and the observation system (8). A setting state identification unit (123) identifies items in the current setting state acquired from the setting state acquisition unit (122) that are different from the reference setting conditions searched by the search unit (121). A control unit (101) displays information based on the identification results on a display unit (103).La présente invention concerne un microscope à lampe à fente capable de régler de manière appropriée et aisément un système optique. Des informations de conditions de réglage de référence (110) dans lesquelles les conditions de réglage de référence dun système dillumination (8) et un système dobservation (6) sont corrélées en fonction de chacun dune pluralité demplacements dun œil subjectif (E) sont stockés à lavance dans une unité de stockage (102) du microscope à lampe à fente (1). Une unité de recherche (121) recherche des conditions de réglage de référence correspondant à lemplacement spécifié par une unité opérationnelle (104) à partir des informations de conditions de réglage de référence (110). Une unité dacquisition détat de réglage (122) acquiert létat de réglage actuel du système dillumination (8) et du système dobservation (8). Une unité didentification détat de réglage (123) identifie des éléments dans létat de
