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Eye examination apparatus and method for determining image data.
专利权人:
Haag-Streit AG
发明人:
Jörg Breitenstein,Frank Zumkehr,Claudio Dellagiacoma
申请号:
CH882018
公开号:
CH714591A1
申请日:
2018.01.25
申请国别(地区):
CH
年份:
2019
代理人:
摘要:
Eine erfindungsgemässe Vorrichtung (1) zur Untersuchung eines Auges, insbesondere eine Spaltlampe, umfasst eine Bildaufnahmeeinheit (220) mit mindestens einem ersten Sensor (241) in einem ersten Strahlengang und einem zweiten Sensor (241) in einem zweiten Strahlengang, wobei die Vorrichtung im ersten Strahlengang weiter ein erstes Objektiv mit einer ersten optischen Achse umfasst, welches eine fixe Vergrösserung aufweist und fix im ersten Strahlengang angeordnet ist. Ebenfalls umfasst die Erfindung ein Verfahren zum Ermitteln von Bilddaten.An inventive device (1) for examining an eye, in particular a slit lamp, comprises an image acquisition unit (220) with at least one first sensor (241) in a first beam path and a second sensor (241) in a second beam path, wherein the device in the first Beam path further comprises a first lens having a first optical axis, which has a fixed magnification and is fixedly arranged in the first beam path. The invention also includes a method for determining image data.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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