The invention relates to a method for measuring thicknesses of materials of multi-layered structure. This method comprises transmitting one or more ultrasound signals including different frequencies into a multilayered structure consisting of two or more materials (1, 2) with one or more ultrasound transducers (5), measuring materials, acoustic properties for which are different at the frequencies in use, measuring ultrasound signals reflected from the front surface and back surface of the multilayered structure with one or more ultrasound transducer and determining thicknesses of the materials within multilayered structure from the reflected ultrasound signals.La présente invention concerne un procédé permettant de mesurer lépaisseur de matériaux à structure multi-couche. Ledit procédé comprend les étapes suivantes : transmission dun ou de plusieurs signaux à ultrason incluant différentes fréquences dans une structure multi-couche constituée de deux matériaux ou plus (1, 2) avec un ou plusieurs transducteurs à ultrason (5) mesure des matériaux, dont les propriétés acoustiques diffèrent aux fréquences utilisées mesure des signaux à ultrason réfléchis depuis la surface antérieure et la surface postérieure de la structure multi-couche avec un ou plusieurs transducteurs à ultrason et détermination de lépaisseur des matériaux dans la structure multicouche à partir des signaux à ultrason réfléchis.
