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測定方法
专利权人:
ARKRAY INC
发明人:
OKUMURA KOJI,奥村 幸司,TAKAGI TAKESHI,高木 毅
申请号:
JP2011117938
公开号:
JP2012247248A
申请日:
2011.05.26
申请国别(地区):
JP
年份:
2012
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a technique of suppressing increase in the number of steps while improving measurement accuracy by calibration.SOLUTION: In the measurement method, a first sample is supplied to a measurement section a prescribed substance included in the first sample is measured without cleaning the measurement section, a second sample is supplied to the measurement section and the prescribed substances included in the first sample and the second sample are measured.COPYRIGHT: (C)2013,JPO&INPIT【課題】校正による測定精度の向上を図りつつ、工程の増加を抑える技術を提供する。【解決手段】第一の試料を測定部に供給し、前記第一の試料に含まれる所定物質を測定し、前記測定部の洗浄を実施せずに前記測定部に第二の試料を供給し、前記第一の試料及び前記第二の試料に含まれる所定物質を測定する。【選択図】図2
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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