A filtration assembly (1) comprising a housing (2) in which a duct (3) for a passage of fluid carrying the contaminating particles (A) to be removed is defined. At least one perforated conductive grill (4) is provided in the first cross section of the duct (3), and the conductive grill (4) emits electrons into the duct (3). Therefore, the emitted electrons can be attached to the contaminating particles (A), and as a result, a negative charge can be given to the contaminating particles (A). At least one storage plate (5) is provided downstream of the grille (4) inside the duct (3) and is kept at a positive potential, so that it is negatively charged by the electrons emitted by the grille (4). Collect the contaminating particles (A) charged to the surface. Furthermore, at least one deflection element (6) is arranged close to the storage plate (5) and is kept at a negative potential to generate an electric field in the duct (3), so that The direction of the charged particles (A) is changed toward the storage plate (5). The assembly includes at least one conductive filament (7), said conductive filament (7) facing and proximate each hole (8) of the grill (4). The filament (7) is kept at a negative potential for the emission of electrons, and the emitted electrons are carried by at least a part of the fluid passing through the respective holes (8). It is possible to adhere to. [Selection] Figure 1除去されるべき汚染粒子（Ａ）を運ぶ流体の通路のためのダクト（３）がその内部に画成された筐体（２）を備える濾過アセンブリ（１）である。前記ダクト（３）の第１の横断面に、少なくとも１つの穿孔された導電性グリル（４）が設けられており、前記導電性グリル（４）は、前記ダクト（３）内に電子を放出するために負電位に保たれ、前記放出された電子は前記汚染粒子（Ａ）に付着でき、その結果、前記汚染粒子（Ａ）に負電荷を与えることができる。前記ダクト（３）内部の前記グリル（４）の下流に、少なくとも１つの蓄積プレート（５）が設けられて正電位に保たれ、これにより、前記グリル（４）により放出された前記電子により負に帯電された前記汚染粒子（Ａ）を収集する。さらに、少なくとも１つの偏向要素（６）が、前記蓄積プレート（５）に近接して配置され、且つ、前記ダクト（３）内に電界を発生するために負電位に保たれ、これにより、負に帯電された粒子（Ａ）を前記蓄積プレート（５）に向けて方向変換させる。このアセンブリは、少なくとも１つの導電フィラメント（７）を含み、前記導電フィラメント（７）は、前記グリル（４）のそれぞれの穴（８）に面し且つ近接している。前記フィラメント（７）は、電子の放出のために負電位に保たれ、放出された前記電子は、前記それぞれの穴（８）を通過する流体の少なくとも一部により運ばれる前記汚染
