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RAPID, NON-DESTRUCTIVE, SELECTIVE INFRARED SPECTROMETRY ANALYSIS OF ORGANIC COATINGS ON MOLDED ARTICLES
专利权人:
SIO2 MEDICAL PRODUCTS; INC.
发明人:
FISK, Thomas E.,TURNEY, Kevin,BROWNING, Robert L.
申请号:
USUS2014/055309
公开号:
WO2015/038850A3
申请日:
2014.09.12
申请国别(地区):
WO
年份:
2015
代理人:
摘要:
The invention is directed to a non-destructive method of detecting whether a coating or deposit (30, 34) of (a) SiOxCy or SiNxCy and/or (b) of SiOx is present on or near a surface of an article (12), such as as a disposable thermoplastic medical article. The method includes impinging infrared light (216) having a wave number in at least a portion of a desired range onto at least a first surface being examined for the presence of the one or more coatings or deposits. At least a portion (224) of the infrared light impinged on the first surface is collected (at 222) and the response output, which may include for example the maximum intensity and/or peak area of the collected infrared light at an infrared spectroscopy peak, is used to indicate the presence of the one or more coatings or deposits.Linvention concerne une méthode non destructive permettant de détecter si (a) un revêtement ou un dépôt de SiOxCy ou de SiNxCy et/ou (b) un revêtement ou un dépôt de SiOx est présent sur la surface dun article ou à proximité de la surface dun article, par exemple un article médical thermoplastique jetable. La méthode consiste à envoyer de la lumière infrarouge, ayant un nombre donde figurant dans au moins une partie dun intervalle souhaité, sur au moins une première surface examinée pour vérifier la présence dudit ou desdits revêtements ou dépôts. Au moins une partie de la lumière infrarouge envoyée sur la première surface est recueillie et lémission consécutive, qui peut inclure par exemple lintensité maximale et/ou le pic de la lumière infrarouge recueillie à un pic de spectroscopie infrarouge, est utilisée pour indiquer la présence dudit ou desdits revêtements ou dépôts.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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