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OCT-basiertes, ophthalmologisches Messsytem
专利权人:
Carl Zeiss Meditec AG; 07745; Jena; DE
发明人:
Hacker, Martin, Dr., 07743, Jena, DE,Pabst, Thomas, 07743, Jena, DE,Ebersbach, Ralf, 04626, Schmölln, DE,Antkowiak, Gerard, 07743, Jena, DE
申请号:
DE102010032138
公开号:
DE102010032138A1
申请日:
2010.07.24
申请国别(地区):
DE
年份:
2012
代理人:
摘要:
Die vorliegende Erfindung betrifft ein ophthalmologisches Messsystem zur Bestimmung von Abständen bzw. zur tomographischen Abbildung von Augenstrukturen, welches auf einem OCT-Verfahren basiert. Das erfindungsgemäße Messsystem besteht aus einer Lichtquelle mit einer Schwerpunktwellenlänge &lambda, einer interferometrischen Messanordnung, einem Scanner-System, welches neben der seitlichen Ablenkung des Probenstrahlens auch axiale Modulationen mit einer Frequenz f im Probenarm aufweist, sowie ein sind hierbei Systeme zu verstehen, die eine seitliche, zweidimensionale Ablenkung des Probenstrahles mit Hilfe eines oder auch zweier, separater Spiegelelemente realisieren und insbesondere axiale Modulationsamplituden zM >> &lambda/2 aufweisen können. Die Anwendung des vorgeschlagenen Messsystems ist insbesondere für den Bereich der Ophthalmologie, zur Bestimmung von Abständen bzw. zur tomographischen Abbildung von Augenstrukturen vorgesehen. Es bietet die Möglichkeit des Einsatzes kostengünstiger Scanner-Systeme, wodurch sich der Aufbau der Gesamtgeräte wesentlich vereinfacht. Es ist jedoch auch für Scanner-Systeme auf anderen Gebieten anwendbar, die ein OCT-Verfahren, insbesondere ein Swept-source-OCT-Verfahren verwenden.The present invention relates to a an ophthalmological measurement system for the determination of distances and / or to permit tomographic imaging of eyes structures, which is based on a oct - the method.The inventive measuring system is composed of a light source with an effective wavelength λ, of an interferometric measuring arrangement, a scanner - a system which, in addition to the lateral deflection of the samples radiation lens also axial modulations with a frequency f in the sample arm, as well as a control - and evaluation unit. As a scanner - a system in this case are systems to be understood to mean a lateral, two-dimensional deflection of the samples with the aid of a jet, or also of two separate mirror elements can be realized and, in particul
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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