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OCT-BASIERTES, OPHTHALMOLOGISCHES MESSSYSTEM
专利权人:
CARL ZEISS MEDITEC AG
发明人:
HACKER, MARTIN,HACKER, Martin,PABST, THOMAS,PABST, Thomas,EBERSBACH, RALF,EBERSBACH, Ralf,ANTKOWIAK, GERARD,ANTKOWIAK, Gerard
申请号:
EPEP2011/003289
公开号:
WO2012/013283A1
申请日:
2011.07.02
申请国别(地区):
WO
年份:
2012
代理人:
摘要:
Die vorliegende Erfindung betrifft ein ophthalmologisches Messsystem zur Bestimmung von Abständen bzw. zur tomographischen Abbildung von Augenstrukturen, welches auf einem OCT-Verfahren basiert. Das erfindungsgemäße Messsystem besteht aus einer Lichtquelle mit einer Schwerpunktwellenlänge (λ), einer interferometrischen Messanordnung, einem Scanner-System, welches neben der seitlichen Ablenkung des Probenstrahlens auch axiale Modulationen mit einer Frequenz (f) im Probenarm aufweist, sowie einer Steuer- und Auswerteeinheit. Als Scanner-System sind hierbei Systeme zu verstehen, die eine seitliche, zweidimensionale Ablenkung des Probenstrahles mit Hilfe eines oder auch zweier, separater Spiegelelemente realisieren und insbesondere axiale Modulationsamplituden zM >> λ/2 aufweisen können. Die Anwendung des vorgeschlagenen Messsystems ist insbesondere für den Bereich der Ophthalmologie, zur Bestimmung von Abständen bzw. zur tomographischen Abbildung von Augenstrukturen vorgesehen. Es bietet die Möglichkeit des Einsatzes kostengünstiger Scanner-Systeme, wodurch sich der Aufbau der Gesamtgeräte wesentlich vereinfacht. Es ist jedoch auch für Scanner-Systeme auf anderen Gebieten anwendbar, die ein OCT-Verfahren, insbesondere ein Swept-source-OCT-Verfahren verwenden.The present invention relates to an ophthalmological measuring system for determining distances and/or for tomographic imaging of ocular structures, which measuring system is based on an OCT method. The measuring system according to the invention consists of a light source with a spectral centroid (λ), an interferometric measuring device, a scanner system, which in addition to the lateral deflection of the sample beam also has axial modulations with a frequency (f) in the sample arm, and with a control and evaluation unit. Scanner system is here to be understood as systems that perform a lateral, two-dimensional deflection of the sample beam with the aid of one or even two separate mirror elements and can in partic
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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