PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a focus detector system whose structure could be simple.SOLUTION: The focus detector system for an X-ray apparatus to generate a phase contrast image by projection or tomography at least equipped with an X-ray beam source including a focus and a radiation source lattice on a focus side to generate a coherent X-ray beam field for each beam provided on a beam path, a phase lattice equipped with a grid line to generate an interference pattern in parallel provided to the radiation source lattice, and a lattice detector apparatus including the detector equipped with a number of detection elements (Ei) flatly provided behind the phase lattice to measure an X-ray intensity depending on its position. The detection elements (Ei) are comprised of a number of longitudinal scintillation straps (SSi) parallel to a grid line of the phase lattice and has a small period whose integral multiple corresponds to an average large period of the interference pattern formed by the phase lattice.COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT【課題】単純な構造を可能とする焦点‐検出器システムを提供する。【解決手段】投影または断層撮影による位相コントラスト画像を作成するためのX線装置の焦点‐検出器システムにおいて、焦点とビーム路中に配置されかつビームごとにコヒーレントX線ビームの場を作成する焦点側線源格子とを備えたX線ビーム源と、線源格子に対して平行に配置され干渉パターンを作成する格子線を備えた位相格子と、位相格子の後方で位置に依存するX線強度を測定するために平面状に配置された多数の検出素子(Ei)を備えた検出器とを有する格子‐検出器装置とを少なくとも備え、検出素子(Ei)が、位相格子の格子線に対して平行に向いた多数の縦長のシンチレーション条帯(SSi)から形成されかつ小周期を有し、この小周期の整数倍が、位相格子によって形成される干渉パターンの平均的大周期に一致する。【選択図】図6
