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NOVEL USE OF MICROSCOPES - USE OF ATOMIC FORCE MICROSCOPES AND SPECTRA ANALYSES
专利权人:
CHACHOUA; Samir
发明人:
CHACHOUA, Samir
申请号:
USUS2016/035091
公开号:
WO2017/209741A1
申请日:
2016.05.31
申请国别(地区):
WO
年份:
2017
代理人:
摘要:
The Author teaches on how to use Atomic Force Microscopes combined with frequency generators, instruments that provide ability to set different conditions that a sample may be subjected, Spectra Analyses Instruments for the diagnoses, prevention and treatment of diseases. The author also discusses the use of atomic force, enhanced light and other forms of microscopy including the Nemes scope in diagnostic and therapeutic applications.Linvention concerne lutilisation de microscopes à force atomique combinés à des générateurs de fréquence, des instruments qui permettent détablir différentes conditions auxquelles peut être soumis un échantillon, et des instruments danalyse de spectres pour le diagnostic, la prévention et le traitement de maladies. Linvention concerne également lutilisation de la force atomique, de la lumière améliorée et dautres formes de microscopie, y compris le microscope de Nemes dans des applications diagnostiques et thérapeutiques.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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