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TÉLÉDÉTECTION PHOTOACOUSTIQUE À SOURCE UNIQUE (SS-PARS)
专利权人:
ILLUMISONICS INC.
发明人:
HAJI REZA, Parsin,BELL, Kevan
申请号:
IBIB2020/051804
公开号:
WO2020/188386A1
申请日:
2020.03.03
申请国别(地区):
IB
年份:
2020
代理人:
摘要:
A photoacoustic remote sensing system for imaging a subsurface structure in a sample, comprising exactly one laser source configured to generate a pulsed or intensity-modulated excitation beam configured to generate ultrasonic pressure signals in the sample at an excitation location, and an interrogation beam incident on the sample at the excitation location, a portion of the interrogation beam returning from the sample that is indicative of the generated ultrasonic pressure signals, an optical system configured to focus the excitation beam and the interrogation beam below a surface of the sample, a detector configured to detect the returning portion of the interrogation beam, and a processor configured to calculate an image of the sample based on a detected intensity modulation of the returning portion of the interrogation beam from below the surface of the sample.L'invention concerne un système de télédétection photoacoustique permettant d'imager une structure souterraine dans un échantillon, comprenant exactement une source laser conçue pour générer un faisceau d'excitation pulsé ou modulé en intensité, configuré pour générer des signaux de pression ultrasonores dans l'échantillon à un emplacement d'excitation, et un faisceau d'interrogation incident sur l'échantillon au niveau de l'emplacement d'excitation ; une partie du faisceau d'interrogation revenant de l'échantillon, qui indique les signaux générés de pression ultrasonore ; un système optique, configuré pour focaliser le faisceau d'excitation et le faisceau d'interrogation sous une surface de l'échantillon ; un détecteur, configuré pour détecter la partie de retour du faisceau d'interrogation ; et un processeur, configuré pour calculer une image de l'échantillon en fonction d'une modulation d'intensité détectée de la partie de retour du faisceau d'interrogation à partir du dessous de la surface de l'échantillon.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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