KESSELS, Henricus M. M.,BRASSÉ, Jan G. M.,VELZEL, Christiaan H. F.
申请号：
EPEP2017/051144
公开号：
WO2017/125528A1
申请日:
2017.01.20
申请国别(地区):
EP
年份:
2017
代理人:
摘要：
The invention concerns a system for determining the topography of a diffusely reflecting curved surface, that comprises two telecentric projection branches that project fringe images of a Ronchi grating on the diffusely reflecting curved surface, and a viewing branch of which the optical system projects an image of the illuminated surface on its camera target, and comprises further a computer that receives the fringe images recorded by the camera target and calculates from these the topography of the anterior eye surfaces, in which system the projection sources are semiconductor diodes and the optical system of the viewing branch is two-sided telecentric.La présente invention concerne un système pour déterminer la topographie d'une surface incurvée a réflexion diffuse, qui comprend deux branches de projection télécentriques qui projettent des images de frange d'un réseau de Ronchi sur la surface incurvée à réflexion diffuse, et une branche de visualisation dans le système optique projette une image de la surface éclairée sur sa cible de caméra, et comprend en outre un ordinateur qui reçoit les images de frange enregistrées par la cible de caméra et calcule à partir de celles-ci la topographie des surfaces oculaires antérieures, les sources de projection du système étant des diodes à semi-conducteur et le système optique de la branche de visualisation est télécentrique bilatéral.
