Die Erfindung betrifft ein Verfahren und ein Röntgensystem zur Erzeugung einer Phasenkontrastdarstellung eines Untersuchungsobjektes (P), wobei die Verteilung einer Elektronendichte im Untersuchungsobjekt (P) mit Hilfe einer Bestimmung energieabhängiger Schwächungswerte für Röntgenstrahlung mit mindestens zwei unterschiedlichen Röntgenenergiespektren (2,3 4,5) ermittelt wird, Phasenverschiebungswerte aus der zuvor ermittelten Elektronendichteverteilung bestimmt werden und eine Phasenkontrastdarstellung aus den berechneten Phasenverschiebungswerten erzeugt wird.The invention relates to a method and an X-ray system for generating a phase contrast image of an examination object (P), wherein the distribution of an electron density in the examination object (P) is determined by defining energy-dependent attenuation values for X-radiation with at least two different X-ray energy spectra (2, 3 4, 5), phase-shift values are obtained from the previously determined electron density distribution, and a phase contrast image is generated from the calculated phase-shift values.Linvention concerne un procédé et un système à rayons X servant à générer une image à contraste de phase dun objet à examiner (P). On détecte la distribution dune densité délectrons dans lobjet à examiner (P) en déterminant des valeurs datténuation énergie-dépendantes du rayonnement X avec au moins deux différents spectres dénergie des rayons X (2,3 4,5). A partir de la distribution de la densité délectrons précédemment détectée, on détermine des valeurs de déphasage et on génère une image à contraste de phase à partir des valeurs de déphasage calculées.
