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엑스선 검사장치 및 검사방법
专利权人:
LISTEM CORPORATION
发明人:
KIM, YOUNG MOKR,김영모,CHOI, BYOUNG WOOKKR,최병욱,JUNG, JI SANGKR,정지상
申请号:
KR1020130118162
公开号:
KR1020150039506A
申请日:
2013.10.02
申请国别(地区):
KR
年份:
2015
代理人:
摘要:
An X-ray inspection device according to one embodiment of the present invention includes an X-ray generating unit which emits an X-ray, a collimator which displays a region to be inspected by emitting the light in the X-ray emission direction from the X-ray generating unit, a detecting unit which includes at least one automatic exposure control chamber for detecting and controlling the exposure dose of the X-ray emitted from the X-ray generating unit, a camera which photographs the region to be inspected which is projected on the detecting unit by the light emitted from the collimator, and a monitor which outputs an image inputted from the camera.COPYRIGHT KIPO 2015본 발명의 일 실시예에 따른 엑스선 검사장치는 엑스선을 조사하는 엑스선 발생부, 상기 엑스선 발생부로부터 엑스선이 조사되는 방향으로 빛을 조사하여 피검사영역을 표시해주는 콜리메이터, 상기 엑스선 발생부로부터 조사된 엑스선의 피폭량을 검출하고 제어하기 위한 적어도 하나의 자동노출제어 챔버를 구비한 검출부, 상기 콜리메이터로부터 조사되어 상기 검출부측에 투영된 피검사영역을 촬영하는 카메라 및 상기 카메라로부터 입력된 영상을 출력하는 모니터를 포함한다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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