您的位置: 首页 > 农业专利 > 详情页

Scattered light measuring device
专利权人:
オリンパス株式会社
发明人:
伊藤 遼佑
申请号:
JP2014535539
公开号:
JPWO2014042130A1
申请日:
2013.09.09
申请国别(地区):
JP
年份:
2016
代理人:
摘要:
A light source (10) that emits light including light of at least a wavelength to be measured, a photodetector (12) that detects light received by the scattered light measurement probe (101), and light from the light source (10) is scattered light. Based on the branching part (11) that guides the light from the scattered light measuring probe (101) to the photodetector (12) and the light detected by the photodetector (12) while guiding to the measuring probe (101) An optical measuring device (1) having a control unit (13) for evaluating the scattering characteristics of the surface layer of the object, and connected to the optical measuring device (1) at one end to propagate light from the light source to the object to be inspected Irradiates and contacts the inspection object at the other end, and receives the light returned by the light irradiated to the inspection object propagating through the inspection object, to the photodetector (12) as an optical signal. Scattered light measurement probe (101) having a fiber (102) leading to When the fiber (102), the light propagates has a core of substantially rod-shaped with a diameter determined in accordance with the detected depth of the object (1020).少なくとも測定対象波長の光を含む光を出射する光源(10)と、散乱光計測プローブ(101)が受光した光を検出する光検出器(12)と、光源(10)からの光を散乱光計測プローブ(101)に導くとともに、散乱光計測プローブ(101)からの光を光検出器(12)に導く分岐部(11)と、光検出器(12)が検出した光に基づき、被検査物の表層の散乱特性を評価する制御部(13)と、を有する光学測定装置(1)と、一端で光学測定装置(1)と接続し、光源からの光を伝播して被検査物に照射するとともに、他端において被検査物と接触し、被検査物に照射された光が被検査物の内部を伝播して戻ってきた光を受光し、光信号として光検出器(12)へと導くファイバ(102)を有する散乱光計測プローブ(101)と、ファイバ(102)は、光を伝播し、被検査物の検出深さに応じて定まる径を有する略棒状の芯部(1020)を有する。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

意 见 箱

匿名:登录

个人用户登录

找回密码

第三方账号登录

忘记密码

个人用户注册

必须为有效邮箱
6~16位数字与字母组合
6~16位数字与字母组合
请输入正确的手机号码

信息补充