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X線コンピュータ断層撮影装置
专利权人:
TOSHIBA CORP
发明人:
KIRSTEN BOEDEKER,カーステン・ブーデッカー,NAKANISHI SATORU,中西 知
申请号:
JP2016077434
公开号:
JP2016198501A
申请日:
2016.04.07
申请国别(地区):
JP
年份:
2016
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an X-ray computed tomography image apparatus capable of determining conditions relating to X-ray irradiation in accordance with a desired image quality.SOLUTION: An X-ray computed tomography image apparatus includes an X-ray source to emit X-rays and processing circuitry. The processing circuitry receives a desired detectability index set by a user, the desired detectability index for determination relating to a desired image quality of a CT scan of an object. The processing circuitry determines the conditions relating to the X-ray irradiation that will result in the desired detectability index set by the user, and causes the X-ray source to scan the object using the determined conditions relating to the X-ray irradiation.SELECTED DRAWING: Figure 1COPYRIGHT: (C)2017,JPO&INPIT【課題】所望の画像品質に対応してX線照射にかかる条件を決定し得るX線コンピュータ断層撮影装置を提供すること。【解決手段】実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置は、X線源と、処理回路構成とを備える。X線源はX線を放射する。処理回路構成は、対象物のCTスキャンの所望の画像品質に関する決定を行う使用者によって設定される所望の検出能指標を受信する。処理回路構成は、使用者によって設定された所望の検出能指標を結果的にもたらすことになる、X線照射にかかる条件を決定する。処理回路構成は、X線源に当該決定されたX線照射にかかる条件を使用して対象物のスキャンを行わせる。【選択図】 図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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