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自覚式検眼装置
专利权人:
NIDEK CO LTD
发明人:
TAKII MICHIHIRO,滝井 通浩,HANEBUCHI MASAAKI,羽根渕 昌明,OCHI HISASHI,越智 永
申请号:
JP2015222932
公开号:
JP2017086653A
申请日:
2015.11.13
申请国别(地区):
JP
年份:
2017
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a subjective optometry apparatus capable of suppressing optical aberration to thereby accurately measure optical characteristics of a subject eye.SOLUTION: The subjective optometry apparatus includes: a light projecting optical system for projecting a target light flux toward a subject eye a corrective optical system disposed in an optical path of the light projecting optical system to change optical characteristics of the target light flux and an optical member for guiding the target light flux corrected by the corrective optical system to the subject eye, the subjective optometry apparatus being characterized in that the apparatus comprises: subjective measurement means for subjectively measuring optical characteristics of the subject eye correction setting means for setting an amount of correction to correct the optical aberration produced by the subjective measurement means, based on the degree of correction of the corrective optical system and correction means for correcting the optical aberration produced by the subjective measurement means, based on the amount of correction set by the correction setting means.SELECTED DRAWING: Figure 1COPYRIGHT: (C)2017,JPO&INPIT【課題】 光学収差を抑制し、被検眼の光学特性を精度よく測定することができる自覚式検眼装置を提供する。【解決手段】 視標光束を被検眼に向けて投影する投光光学系と、投光光学系の光路中に配置され、視標光束の光学特性を変化する矯正光学系と、矯正光学系によって矯正された視標光束を被検眼に導光する光学部材と、を有し、被検眼の光学特性を自覚的に測定する自覚式測定手段を備える自覚式検眼装置であって、自覚式測定手段にて生じる光学収差を補正するための補正量を、矯正光学系の矯正度数に基づいて設定する補正設定手段と、補正設定手段によって設定された補正量に基づいて、自覚式測定手段にて生じる光学収差を補正する補正手段と、を備える。【選択図】 図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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