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自覚式検眼装置
专利权人:
NIDEK CO LTD
发明人:
TAKII MICHIHIRO,滝井 通浩,HANEBUCHI MASAAKI,羽根渕 昌明
申请号:
JP2017070653
公开号:
JP2018171229A
申请日:
2017.03.31
申请国别(地区):
JP
年份:
2018
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a subjective optometric apparatus and a subjective optometric program capable of easily and accurately performing a subjective examination.SOLUTION: A subjective optometric apparatus includes: a light projecting optical system 30 for projecting a target light beam to an eye to be examined a correction optical system 60 arranged in an optical path of the light projecting optical system for changing optical characteristics of the target light beam and an optical member for guiding the target light beam corrected by the correction optical system to the eye to be examined. The target light beam is guided to the eye to be examined after passing through an optical path away from the optical axis of the optical member. The subjective optometric apparatus subjectively measures the optical characteristics of the eye to be examined using an image of the target light beam guided to the eye to be examined, and includes correction means for correcting an inclination of an image surface of the image of the target light beam generated when the target light beam passes through the optical path away from the optical axis of the optical member.SELECTED DRAWING: Figure 2COPYRIGHT: (C)2019,JPO&INPIT【課題】容易に精度よく自覚式検査を行うことができる自覚式検眼装置及び自覚式検眼プログラムを提供する。【解決手段】視標光束を被検眼に向けて投影する投光光学系30と、投光光学系の光路中に配置され、視標光束の光学特性を変化する矯正光学系60と、矯正光学系によって矯正された視標光束を被検眼に導光する光学部材と、を備え、視標光束は光学部材の光軸から外れた光路を通過して被検眼に導光され、被検眼に導光された視標光束の像を用いて被検眼の光学特性を自覚的に測定するための自覚式検眼装置であって、視標光束が光学部材の光軸から外れた光路を通過することによって生じる視標光束の像の像面の傾きを補正する補正手段と、を備える。【選択図】図2
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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